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梁华国; 陈凡; 黄正峰;
合肥工业大学电子科学与应用物理学院;
合肥工业大学计算机与信息学院;
时序裕度; 软错误; 电路性能; 可靠性; 选择性加固;
机译:总电离剂量辐照对40nm时序电路中SEU和SET引起的软错误的影响
机译:触发器扰动的时间掩蔽对时序电路软错误率的影响
机译:通过减少状态数来加速时序电路的软错误容忍评估方法
机译:基于故障安全电路的软错误容错时序电路设计
机译:VLSI动态统计性能验证和时序/软错误恢复设计。
机译:基于棘突时序可塑性的神经电路模型分析视网膜网中方向选择性的发展
机译:对抗软错误的时序电路元件的表征和设计
机译:CmOs Ram的软错误敏感性:依赖于电源电压
机译:电加热器的温度敏感调节器-在桥电路中使用热敏电阻来感测温度。并使用错误来驱动LED-光敏电阻组合以改变振荡器的时序
机译:集成电路工艺中解决方案,以降低热中子的软错误率
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