点聚焦透镜天线分辨率的分析与测量

摘要

采用波动理论方法分析了平面电磁波经点聚焦透镜天线会聚后焦斑大小和横向空间分辨率 ,得出了此类天线在会聚点的天线特性与平面口径天线在无穷远处的天线特性的关系 ,提出了透镜天线分辨率的一种测量方法。通过实测 。