首页> 中文期刊> 《半导体技术》 >基于复用的SOC测试技术

基于复用的SOC测试技术

             

摘要

复用不仅是SOC设计思想的核心,也是解决SOC测试的基础。本文在分析SOC的基本概念和特点的基础上,从复用的角度对现有的SOC测试方案进行分析和综述,并探讨了亟待解决的问题。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号