铁电薄膜材料I-V特性的测量

摘要

介绍了测量铁电材料Ｉ－Ｖ特性的原理和电路，并对ＰＹＺＴ铁电薄膜试样进行了电滞回线和Ｉ－Ｖ特性的测量，指出铁电材料具有其特有的Ｉ－Ｖ特性曲线。因此，有无铁电体Ｉ－Ｖ特性曲线不仅可以判断该材料是否为铁电体，还可判断铁电材料性能的好坏，如极化强度和矫顽场大小、对称性等。