中子散射对快中子照相质量影响的分析

摘要

通过一内空的圆柱体模型,对在快中子照相时由样品引起的散射中子强度与样品形状和探测距离之间的关系进行模拟,并用241Am-Be作中子源对散射中子的影响进行实验验证。结果表明,在快中子照相时,由样品引起的散射中子的强度与探测距离以及样品形状有关。对于同一样品,探测距离增加,散射中子的影响则降低。