低灵敏度探测器表面响应检测装置的研制

摘要

介绍了一种新型的用于测量低响应度探测器表面响应特性的检测系统。阐述了激光调制法在探测器表面均匀检测中应用的原理,该检测装置采用编码调制的650nm激光器作为辐射源,并对检测装置的机械组成,电气组成以及装置的工作原理,控制流程作了详细说明。实测结果表明基于调制激光的检测方案是可行的。