首页> 中文期刊> 《现代化工》 >低介电常数材料的高可靠性技术的确立

低介电常数材料的高可靠性技术的确立

         

摘要

日本日立制作所(日立制作所)和日立化成工业(日立化成工业)株式会社开发了大大提高下一代LSI所必须的低介电常数材料的可信度的技术。以造成低介电常数材料电气劣化的机械装置为首,在阐明造成电气劣化原因的同时,提出了在分子水平上适用的抑制劣化技术,使低介电材料寿命得到了飞越性提高。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号