NI PXI矢量网络分析仪,帮助半导体和移动设备制造商降低测试成本

摘要

2012年12月-美国国家仪器公司（National Instruments，简称NI）发布了NI NI PXIe-5632VNA，它经进一步优化，可帮助工程师满足日益复杂的射频测试要求，而其成本、尺寸和使用所需时间仅是传统堆叠式解决方案的极小一部分。新的PXIeVNA基于创新型的双源架构，频率范围为300kHz至8．5GHz，拥有独立调整的源代码和源接入循环，