荧光寿命的锁相检测技术研究

摘要

针对光纤荧光温度传感器中影响系统精度的关键的荧光寿命检测技术进行研究,采用参考信号、用正弦信号来调制激励光源的锁相技术(PLD-AMSR)对荧光光纤温度传感器的荧光寿命进行检测,推导出测量荧光寿命的数学模型。该方法对激励光泄露有抑制作用,使测量精度有了显著提高。实验表明,该方法是有效的,达到了系统要求。