利用MAP评估提高表面等离子体结构光照明技术成像质量

摘要

经典的恢复算法不能有效地恢复被观测物的全频域信息,空间频率的缺失导致超分辨图像伴有较为严重的旁瓣.本文提出利用最大后验概率(MAP)评估解决表面等离子体结构光照明技术中的光学旁瓣问题.结果表明MAP评估恢复算法可以有效恢复物质的高空间频率信息,并且通过合理选择优化参数达到抑制光学旁瓣的目的.在波长520nm,数值孔径1.3下,可获得半高全宽65nm的横向分辨力,约为传统荧光显微镜的3.6倍.该技术在生命科学观测中具有潜在应用价值.