不同频率下介电材料偏压温度特性测试

摘要

在分析加偏方法、所用元件、线路残量、加偏电压与相关元件功率的关系与保护方式的基础上，构置了可用于偏压下介电材料的电容量 Ｃｘ 及损耗 ｔａｎ δ不同频率下温度特性测试装置。实验证明，该套装置可对样品不同偏压下的电容量和损耗的温度特性直接显示，并具有偏压范围宽，对不同偏压下介质材料可以在 ０．５ Ｈｚ～１ Ｍ Ｈｚ 的频率范围进行温度特性测试。