首页> 中文期刊> 《电子测量技术》 >科利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产测试系统——Sapphire D-10

科利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产测试系统——Sapphire D-10

         

摘要

科利登系统公司日前宣布将参展2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005。该展会是半导体设备供应商及电子行业的一个首要集会,它由中国半导体工业协会和中国贸促会电子信息行业分会(CCPIT-ECC)共同举办。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号