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井西利; 徐天赋; 陈秀娟; 李栋宇;
燕山大学理学院;
大庆物探研究所;
椭偏测量; 模拟退火; 薄膜;
机译:测量各向同性和各向异性薄膜有效椭偏参数的偏振扫描椭偏法
机译:粒子群算法用于层数任意的椭偏数据反演
机译:广义模拟退火算法在椭偏反演中的应用
机译:模拟退火—单纯形混合算法在双层膜椭偏数据反演中的应用
机译:使用MUELLER矩阵椭偏仪对粗糙基体进行薄膜测量
机译:过去的宝藏VII:通过椭偏仪测量非常薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性质
机译:从普通到异常的光谱椭偏仪反演,用于薄膜的光学表征
机译:二氧化锗薄膜在晶体锗上的介电功能的光谱椭偏法测量
机译:椭偏分析仪,样品椭偏分析方法和薄膜厚度变化量测量
机译:混合气体中特定气体浓度的测量方法,以及使用分析仪和椭偏仪的方法来连续测量混合气体中特定气体的浓度
机译:椭偏,反射和散射测量的干涉测量方法,包括薄膜结构的表征
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