基于灰关联熵的模拟电路测试点优选算法

摘要

选择最佳测试点是电路故障诊断的重要课题。将模拟电路看作灰色系统,对模拟电路进行灰关联熵分析,利用灰熵关联度量化测试点与故障元件之间的关联程度,从而得到故障诊断的最佳测试点。通过两个典型电路的实例表明,将灰关联熵分析用于测试点优选,具有算法简单、所需样本少、结果明确等优点,保证了测试点选择的客观性。