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光弹性等差条纹级数的识别

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摘要

本文根据光弹性和光干涉原理,提出了利用双波长测得的扣纹级数小数部分计算条纹全量的方法,并经计算和实验验证其正确性,它的精度取决于小数条纹部分的测量精度.本方法将为光弹性实验数据的自动采集提供了方便.

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来源
《实验力学》 |1990年第1期|96-102|共7页
作者
林绍坤; 李志和;
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作者单位

机电部郑州机械研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类力学;
关键词
双波长; 条纹全量; 光弹性;

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