面板单位根检验中的快速双自举抽样推断方法研究

摘要

文章对SUR-ADF面板单位根检验进行了理论解析。通过蒙特卡罗实验,揭示了SUR-ADF检验的有限样本性质,即较低的检验势和较高的水平扭曲;提出了应用快速双自举抽样推断的方法来提高SUR-ADF检验的可靠性的想法。