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GaAs—Ga1-xAlxAs双异质结激光器的深能级荧光《详细摘要》

     

摘要

<正> 一、实验实验用的激光器是从n-GaAs:Te衬底上生长一个比较厚的缓冲层(10~20μ)然后再进行多层外延生长得到的。典型的数据为N-Ga0.7Al0.3As∶Sn~2μ,P-GaAs∶Si~0.5μ,P-Ga0.7Al0.3As∶Ge~2μ,p-GaAs∶Ge~2μ。实验装置如图〈1〉。红外显微镜将激光器的端面象投影在狭缝上。激光器的结平面在X-Z平面内,狭缝的长轴沿Z方向,PbS探

著录项

  • 来源
    《半导体光电》|1981年第2期||共页
  • 作者

    王仲明许继宗;

  • 作者单位

    中国科学院半导体研究所;

    中国科学院半导体研究所;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
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