用组合制样法测定全极图

摘要

为了用Schulz反射法测定薄板材料中X—射线极图的一个象限,本文叙述了组合样品制备的简化方法。其他特殊的组合制样法被用来研究极图的特殊区域。用计算机画出了这些制样平面所用的极网。用步进扫描法来得到关于极图特定区域的细节。对直径为0.5—1时的大晶粒材料得到了满意的极图。