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张家昌;
北京市半导体器件研究所 工程师;
机译:面向系统的单事件效果测试方法,用于高速数字锁相环
机译:带电流检测器的锁相环的数学模型
机译:离散时间的某些类型锁相环的数学模型
机译:锁相环集成电路的测试方法
机译:高温碳化硅中的锁相环和碳化硅集成电路的一般设计方法。
机译:将数学模型预测集成到常规工作流程中以支持血液学临床决策
机译:锁相环测试方法
机译:低功耗肖特基TTL高速数字锁相环集成电路的设计
机译:集成电路,用于集成电路的测试器,用于集成电路的测试方法,用于集成电路的测试方法程序以及将带有记录方法的介质记录到集成电路的测试方法中
机译:用于执行半导体集成电路测试方法的半导体集成电路的测试方法,用于半导体集成电路的测试设备,标准电路板以及用于执行测试方法的直流系统继电器
机译:数学模型的移动港口可操作性测试方法
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