结温老化

摘要

＜正＞ 1.概述 结温老化是一种新的老化方法,此方法直接控制外加在逻辑集成电路的功耗,使内部结温达到应有极限,从而使有潜在缺陷的电路及时失效筛选掉。本文通过结温老化的原理、条件的指定、试验结果及分析、功耗的离散性、结温老化与脉冲老化和直流偏压老化的比较、应注意的一些问题等方面来阐明为什么会提出结温老化。