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郑祥钦; 沈瑞成;
南京大学物理系;
机译:阳极剖分和霍尔法测量法测量硅中的浅掺杂杂质剖面
机译:通过使用静电力显微镜测量半导体表面电势来评估杂质浓度空间分布
机译:使用静电力显微镜评估半导体表面电位测量的杂质浓度空间分布
机译:在环境噪声频谱和空间特征的测量中作为杂质的地震剖面
机译:使用X射线微计算机断层扫描技术在多孔地质介质中扩散过程中孔隙度和溶质浓度分布的三维测量
机译:大鼠先天性尿道下裂模型中不同严重程度的牙周血管分布:微计算机断层扫描成像研究
机译:使用X射线微计算机断层扫描 - 活塞压缩与离心压缩的垂直空转分布测量粉末包装床中的垂直空隙分布 -
机译:溅射引发的共振电离光谱:半导体中杂质和超浅掺杂分布的定量和灵敏测量的分析技术
机译:测量半导体晶片的杂质分布的方法和用于测量半导体晶片的杂质分布的程序
机译:碳化硅材料或氮化硅材料中杂质浓度分布的测量方法以及陶瓷中杂质浓度分布的测量方法
机译:半导体杂质分布的样品制备方法及杂质分布的测量方法
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