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改善镀金可伐合金外引线耐蚀性的途径

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摘要

＜正＞半导体器件镀金可伐合金外引线的腐蚀断裂是一个亟待解决的问题.对此国内外开展过不少研究工作,一方面研究其腐蚀机构,另一方面针对失效原因,寻求解决的办法.我们认为这个问题是非常复杂的,因素是多方面的,

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来源
《半导体技术》 |1984年第6期|43-49|共7页
作者
沈卓身; 徐金堃; 张小娥; 李虎;
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作者单位

北京钢铁学院;

北京钢铁学院;

电子工业部五所;

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