集成电路动态参数测试技术

摘要

＜正＞ 数字集成电路动态参数的测试是集成电路的生产厂家和广大用户共同关心的问题。国外已有完全自动化的测试仪器,但价格高昂且难以购置。国内虽有厂家研制,也由于造价太高及功能的局限性,尚未大量投产。本文提出一种新的测试技术,可能使研制中的仪器具有性能优异、结构简单、造价较低的优点。对于中小规模的CMOS、TTL、ECL电路的动态参数测试,可以做成小型台式的自动测试仪。动态参数,也称交流参数。对于中小规模的数字集成电路,主要包括传输延迟时间