滤箔型反光电子谱仪

摘要

反光电子谱可直接测定固体材料表面的电子空态密度及空态的能带结构。由于过程中不包括芯能级激发,因此可避免芯能级激发时伴随的“驰豫过程”引起的信号失真。本文叙述一种滤箔型反光电子谱仪的原理、结构和用于测定一些稀土金属样品的结果,所得谱的重复性良好。最后还估计了实验中存在的各种加宽效应并对谱进行了退卷积处理。