倾斜生长法制备表面增强拉曼散射基底及其应用

摘要

基于贵金属纳米结构表面增强拉曼散射可实现物质的痕量检测。主要介绍了基于倾斜生长法对Ag纳米棒阵列的可控制备,及其应用于痕量物质的检测,并通过主成分分析法和偏最小二乘回归法建立了痕量物质的半定量和定量分析。