一种可用于检测过程尺度参数的非参数控制图

摘要

传统的控制图多数是在已知过程分布的假设下构建的,这种控制图被称为参数控制图.然而,在实际应用中,大多数过程因为其数据的复杂性导致他们的精确分布往往难以确定.当预先指定的参数分布无效时,参数控制图的结果将不再可靠.为了解决这个问题,通常考虑非参数控制图,因为非参数控制图比参数控制图更加稳健.近年来对非参数控制图的研究越来越多,但大多数现有的控制图主要是用于检测位置参数的变化.本文提出一个新的非参数Shewhart控制图(称为LOG图),可用来检测未知连续过程分布的尺度参数.文中依据运行长度分布的均值,方差和分位数,分析了LOG图在过程受控和失控时的性能表现,并与其他非参数控制图进行比较.模拟结果表明,LOG图在不同过程分布下对检测尺度参数的漂移都具有很好的性能.最后用一个实例来说明LOG图在实际中的应用.