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王文双; 唐锐; 牛付林;
工业和信息化部电子第五研究所国家通用电子元器件质量监督检验中心,广州510610;
静电放电; 光电器件; 人体模型; I-V特性;
机译:聚噻吩:基于富勒烯的倒置太阳能电池中光电流损失的根本原因失效分析
机译:GIS中通过隔离开关的开/关产生的电弧放电引起的电子电路的瞬态电涌传输特性分析
机译:基于光电检测的气体绝缘开关装置的局部放电检测和放电型识别
机译:40.5kV金属封闭式空气绝缘开关设备套管失效原因分析。
机译:基于N沟道InGaAsP-InP的倒置通道技术器件(ICT)的设计,制造和表征,用于光电集成电路(OEIC):双异质结光电开关(DOES),异质结场效应晶体管(HFET),双极倒置沟道场-效应晶体管(BICFET)和双极型反向沟道光电晶体管(BICPT)。
机译:通过弱编程和保留失效分析的基于氧化物的存储设备中的丝状开关的证据。
机译:变电站隔离开关的失效分析
机译:废物隔离试验工厂(WIpp)废弃提升机制动系统每年失效概率分析
机译:数据驱动的预测和识别基于WAFER-LEVEL分析和失效模式半导体的根本原因分析,处理
机译:使用车辆设备数值数据的失效原因分析系统及其方法
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