超细粉末压片X射线荧光光谱法分析铬铁矿中的多种元素

摘要

随着超细标准物质的研制,超细样品在地质分析中得到了进一步的应用。本文利用超高速行星式碎样机粉碎铬铁矿标准物质制成超细样品,采用粉末直接压片制样波长色散X射线荧光光谱测定铬铁矿中的多种元素（Cr、Si、Al、Fet、Mg、Ca、S、Co、Ni、V）。采用多种铬铁矿标准物质和人工配制标准物质制作工作曲线,经验系数和散射线内标法校正元素间的吸收-增强效应,方法精密度（RSD,n=10）为0.24%~2.95%。本方法有效地克服了样品的粒度效应,分析结果的精密度和准确度不低于化学法。