小角X射线散射技术在高分子表征中的应用

摘要

小角X射线散射(SAXS)技术是表征高分子材料微观结构的一种重要手段.当X射线穿过材料时,在材料不均一的电子云密度分布作用下,发生散射并形成特定的散射图案,使得我们可以根据特定的模型来反推材料的微观结构,并计算相关结构参数.SAXS特有的对微观结构的统计平均及无损探测使其成为了一种不可或缺的高分子材料微观结构分析手段.本文首先简述了SAXS技术的基本理论,在此基础上根据测试中的实际问题给出了测试时可采取的实验技巧.最后,结合典型实例,概述了高分子材料中可用SAXS技术表征的微观结构及其相应的理论模型.希望本文能作为入门文献,帮助初学者更好地理解SAXS技术的原理,并结合实际需求迅速了解SAXS技术的适用范围及相关实验技巧,高效地完成相关实验.