SWI及DTI在弥漫性轴索损伤慢性期的应用价值

摘要

目的探讨磁敏感加权序列(SWI)及扩散张量成像(DTI)在弥漫性轴索损伤(DAI)慢性期的应用价值。方法对12例CT及常规MRI无明显异常DAI慢性期的患者,15例轻度脑外伤复查患者及15例健康志愿者进行超高场MR扫描,MRI采用GE Signa EXCITEⅡ磁共振扫描系统,序列包括T2*GRE、SWI、DTI,由两名高年资放射科诊断医师共同分析MR图像,对出血灶进行计数。在FA图上分别测量脑内多个感兴趣区的FA值。并将发现出血灶的数量及测得分数各向异性(FA)值分别与患者的GOS评分进行相关性分析。结果在DAI中,SWI序列能发现更多的出血灶,与T2*GRE相比差异显著(P0.05);DAI患者中,出血灶的数量、胼胝体膝部的FA值与GOS评分相关(r=-0.677 5,P=0.031 4;r=0.836 0,P=0.009 7)。结论SWI及DTI可以更清晰的显示DAI病变,并可以评价其损伤的程度。