微波集成电路的低频噪声测试方法

摘要

噪声检测是小型化微波集成电路可靠性诊断的一种无损检测手段,针对GaAs PHEMT单片微波集成电路(MMIC)功率放大器的可靠性问题,进行了噪声测试实验,研究了其低频噪声的测试方法。分析了合格与失效电路的噪声功率谱密度和时间序列,并提取GaAs PHEMT MMIC功率放大器1/f噪声的幅度值、噪声指数和转折频率。测试结果表明,MMIC功率放大器的噪声主要为1/f噪声和热噪声。从噪声功率谱密度来看,失效电路的噪声比合格电路的噪声大;从时间序列来看,失效与合格电路的噪声谱幅值不同,失效电路的噪声谱幅值变化无规律且为爆裂噪声,合格电路的噪声谱幅值变化有规律且主要是1/f噪声;从噪声参量提取来看,1/f噪声的幅度值、噪声指数和转折频率均可作为噪声的表征参量。