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应变片法测量低温下材料线膨胀系数

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详细地探讨了应变片法测量材料线膨胀系数的原理.指出了应变片法相对于传统的石英管膨胀仪法的优点及测试中需注意的事项.建立了一套低温下材料线膨胀系数的测量装置,并利用该装置测量了一种铜在4.2～100 K的线膨胀系数.试验结果表明,用应变片法测量材料的线膨胀系数是一种简单可靠且经济实用的替代方法.

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来源
《低温工程》 |1999年第1期|18-21|共4页
作者
王正道; 赵立中; 途志华; 张忠;
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作者单位

中国科学院低温技术实验中心,北京,100080;

中国科学院低温技术实验中心,北京,100080;

中国科学院低温技术实验中心,北京,100080;

中国科学院低温技术实验中心,北京,100080;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类制冷工程 ;
关键词
热膨胀 ; 应变片 ; 低温 ; 测量;

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