增强质子背散射方法对薄靶中轻元素的测定

付涛; 付月丹

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本文采用能量为2MeV的质子束入射Mo基底表层Ti(He)薄靶,测量了散射角160°方向上的背散射能谱,用SIMNRA进行了拟合.SIMNRA虽然在计算多次散射影响时采用了双散射近似,并且使用元素的卢瑟福散射截面代替非卢瑟福散射截面.研究表明对He、O、Si这类较轻的非卢瑟福散射元素,SIMNRA能够较好地处理对其的模拟.

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来源
《建材与装饰》 |2017年第40期|92|共1页
作者
付涛; 付月丹;
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作者单位

成都理工大学工程技术学院四川乐山 614000;

成都理工大学工程技术学院四川乐山 614000;

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正文语种 chi
中图分类原子核物理学;
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