X射线荧光分析中的准绝对测量方法

摘要

基体效应校正是Ｘ射线荧先分析方法中关键的一环，在很大程度上决定了测量数据的准确度。本文提出了一种新的基体效应校正方法一准绝对测量方法。它兼有相对测量和绝对测量方法的特点，并具有较广泛的适用性。