基于遗传算法的复杂电子装备测试性优化分配

摘要

遗传算法作为一种通用方法,已经在很多领域得到应用,但在测试性工程中应用相对较少;鉴于测试性分配的原则和一般模型,文章利用"并行工程"的思想,系统地给出了采用遗传算法进行复杂电子装备测试性优化分配的全过程;基于遗传算法的测试性优化分配方法可以把测试性和可靠性、维修性等紧密衔接起来,解决了电子装备"并行设计"中测试性分配存在的问题,弥补了传统方法的缺陷;通过将该算法与传统的测试性分配方法进行比较,充分证明了遗传算法在测试性分配工作中具有很高的实用价值;采用该方法可以大大提高测试性分配的成功率、节约装备的诊断和测试费用.