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ATE功能测试码生成方法

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文中简要介绍了芯片测试,对ATE功能测试码生成给出了一般性原则,同时介绍了一种针对数字电路的简易、经济的适合于任意ATE功能测试码真值表生成方法.

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来源
《通信技术》 |2007年第10期|62-64|共3页
作者
尤坤; 王慧;
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作者单位

成都三零嘉微电子有限公司,四川,成都,610041;

成都三零嘉微电子有限公司,四川,成都,610041;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类微电子学、集成电路（IC）;专用集成电路;数字集成电路、逻辑集成电路;
关键词
芯片测试; 功能测试ATE; ATE功能测试码; 端口真值表;

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