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张朝晖; 邓明; 陈贺贤; 李文华;
中国电子科技集团公司第三十六研究所 浙江嘉兴314033;
FPGA; 抗单粒子翻转; 三模冗余(TMR); 定时刷新; EDAC; 单粒子翻转辐照试验;
机译:低电压13T抗辐射SRAM位单元的单粒子翻转耐受性研究
机译:SRAM-FPGA中大规模数字束形成的容错设计软件定义卫星平台
机译:FMER:基于SRAM的FPGA设计的节能型错误恢复方法
机译:使用质子辐射测试验证总基于SRAM的FPGA策略
机译:低功耗和工艺变化感知型SRAM和Cache在SRAM电路,架构和组织中的设计容错能力。
机译:使用基于SRAM的FPGA进行功率感知的高性能无线传感器网络
机译:使用质子辐射测试验证星空基于SRAM的FPGA的FDIR策略
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机译:基于大规模电子健康记录的,可大规模缩放和动态调整的临床试验设计和注册程序
机译:FPGA设计辅助系统,FPGA设计辅助方法和FPGA设计辅助程序
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