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针对FPGA内缺陷成团的电路可靠性设计研究

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摘要

文章分析了集成电路内缺陷成团机理及其对集成电路成品率的影响,应用集成电路成品率预计模型,分析了FPGA内缺陷成团对片内冗余容错电路可靠性的影响,据此提出了缺陷成团时提高FPGA片内冗余容错电路可靠性的策略,建立了相应的可靠性分析模型,给出了FPGA片内冗余容错电路布局的一些指导原则.

著录项

来源
《中国空间科学技术》 |2004年第2期|19-26|共8页
作者
杜文志; 谭维炽;
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作者单位

北京空间飞行器总体设计部,北京,100086;

北京空间飞行器总体设计部,北京,100086;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类航天（宇宙航行）;
关键词
集成电路; 可靠性; 冗余技术; 小型卫星;

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