• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 中文期刊> 《中国光学(中英文)》 >光学薄膜参数、测试及设备

光学薄膜参数、测试及设备

             
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

O484.41 97010442低温退火工艺柔性基上ITO膜透光率的影响=Effectof low temperature annealing on transmittanceof ITO thin film deposited on softsubstrate[刊,中]/程知群,高启安(合肥工业大学.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号