光学薄膜参数、测试及设备

摘要

O484.5 98031890高反膜镜片参数的精确测量=Accurate measure-ment of parameters of high reflective dielectricfilms[刊,中]/李健,刘杰(山东师范大学物理系.山东,济南(250014))∥光电子·激光.—1997,8(3).—209—212在利用光学谐振腔测量高反射率镜片的方法基础上,由光学谐振腔的透射谱和反射谱特性,定义了透射—反射比值谱函数。通过对其精细度的测量,可精确求出高反射率镜片的透射率和吸收损耗。