2型糖尿病中枢神经损伤的1H-MRS研究

摘要

目的 采用氢质子磁共振波谱分析技术(1 H-MRS)测定血糖控制不佳的2型糖尿病患者内囊、丘脑、前额叶白质的生化代谢物的变化,探讨2性糖尿病患者中枢神经损伤的特点.方法 选取42例血糖控制不佳的2型糖尿病患者,以40名健康志愿者作为正常对照组,所有入组患者均在入组第2天下午同一时间段完成氢质子磁共振波谱检查,以双侧内囊、丘脑、前额叶为感兴趣脑区,分别检测NAA/Cr值和Cho/Cr值,同日完成双下肢动脉彩超和肌电图检查.结果 研究组双侧内囊、双侧丘脑和双侧前额叶白质NAA/Cr值均显著低于对照组,差异有统计学意义(P<0.05);研究组左侧内囊、双侧丘脑和双侧前额叶白质Cho/Cr值均高于对照组,差异有统计学意义(P<0.05);研究组右侧内囊Cho/Cr值与对照组相比差异无统计学意义(P>0.05).结论 血糖控制不佳的2型糖尿病患者可能较早出现中枢神经系统损伤,氢质子波普分析技术有望成为糖尿病中枢神经系统损伤的一种客观检查手段.