Mapcheck的剂量学质量保证

摘要

目的:评价我中心新购美国Sun Nuclear公司生产二维半导体阵列Mapcheck的剂量学特点.方法:使用美国瓦里安公司23EX直线加速器高能光子束照射Mapcheck研究其重复性,线性以及验证其本身阵列校准方法的准确性;同时在研究其重复性.脉冲率依赖性及输出因子时使用德国PTW30013电离室测量数据并比较.结果:实施Mapcheck专用阵列校准方法后在0和180测量结果差异介于-0.5%至0.7%之间.矩阵重复性最大标准差是±0.16%,中心轴半导体探头(C点)12次测量标准差为0.065%.中心探头随剂量率变化最大范围是0.78%.同指形电离室结果比较,小于4cmx4cm射野时.Mapcheck低估了输出因子最大达1.1%,大于15 cmxl5 cm射野时,Mapcheek开始高估输出因子最大达0.9%.结论:Mapeheck的各项剂量学检测结果符合出厂指标,适合应用于临床作常规射野剂量学质量保证及调强剂量学验证.