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P型砷化镓中补偿程度对杂质能带的影响

         

摘要

自洪朝生在1950年首次提出半导体中的杂质能带的概念以来,各国在这方面已经进行了许多理论和实验的研究。最近为了解释掺硅的GaAs与掺锌的GaAs在发光特性上的巨大差别(表1)而进一步发展了这一概念。

著录项

  • 来源
    《发光学报》 |1979年第z1期|P.106-114|共9页
  • 作者

  • 作者单位

    北京大学物理系发光管组;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 G6;
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