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等离子辅助镀膜技术

         

摘要

传统的电子束蒸发工艺提供了高速率的沉积,但由于成膜分子的能量较低,使沉积的薄膜排列密度很低,其性能和块状材料区别很大,已有不少学者发现了很多金属和氧化物薄膜具有典型的柱状结构.薄膜的低排列密度造成了其光学常数和机械性能不如块状材料,近几年发展起来的高功率等离子体辅助镀膜技术解决了上述问题.本文报道了我国自己研制的等离子体源(GIS)的性能指标、用这个源所做的单层TiO2膜的成膜工艺与质量,以及用等离子辅助沉积的减反射膜的工艺.

著录项

  • 来源
    《发光学报》 |2002年第6期|623-626|共4页
  • 作者单位

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室光学技术中心,吉林,长春,130022;

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室光学技术中心,吉林,长春,130022;

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室光学技术中心,吉林,长春,130022;

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室光学技术中心,吉林,长春,130022;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 制造工艺及设备;
  • 关键词

    等离子辅助沉积技术; 光学镀膜;

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