压敏电阻对半导体桥火工品电爆性能的影响

摘要

压敏电阻能有效抑制浪涌电压,可用于火工品电磁防护.为研究压敏电阻对半导体桥(SCB)火工品电爆性能的影响,本研究在电容放电(47 μF、22 V)与恒流(100 ms)激励条件下测试了并联压敏电阻前后典型尺寸SCB火工品100 μm(L)×400 μm (W)×2 μm (T)和低发火能量SCB火工品20 μm(L) ×100 μm(W)×2lμm(T)的爆发时间和爆发消耗能量的变化规律.电容放电实验(47 μF、22 V)结果f检验表明,并联压敏电阻前后的典型SCB火工品的爆发时间和爆发能量均无显著性变化;对于低发火能量SCB火工品,并联击穿电压较低的压敏电阻时,爆发所需能量升高14％,而爆发时间无显著性变化.而恒流(100 ms)激励实验结果表明,压敏电阻对两种SCB火工品电爆性能均无显著性影响.