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基于NIOS边界扫描测试平台的开发

         

摘要

阐述一种新颖的基于NIOS边界扫描测试平台的设计,提出了采用SOPC技术的一种更加灵活、高效的嵌入式系统新解决方案.该方案将边界扫描主控器系统的多功能模块集成在Altera公司推出的低成本、高密度、具有嵌入式NIOS软核CPU的现场可编程门阵列(FPGA)上,大大提高了系统设计的灵活性、边界扫描的测试效率.同时USB接口技术的应用使得边界扫描测试系统具有热插拔,传输速率快等优点.详细论述了具有自主知识产权的JTAG总线控制模块的设计和NIOS平台上USB固件开发.实验结果表明,此测试平台的设计正确有效,能够进行精确的故障诊断.

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