基于Bayes分析的测量仪器的测量过程控制

摘要

在两次计量校准间隔期内,采用测量过程控制方法保证测量仪器的精度.针对传统Shewhart控制图方法在统计分析中容易出现 "误发警报"错误的问题,提出一种基于Bayes分析的控制图方法,并进行了实验验证.Bayes分析充分利用先验信息,进行分布的参数估计,从而优化控制限.实验表明,与传统的Shewhart控制图相比,改进后的控制图控制限变宽,降低了"误发警报"错误的概率,适合用于小样本核查数据的统计分析.