PDP能量恢复电路硬开关问题的研究

摘要

等离子显示器在没有能量恢复电路的情况下,功耗很大,不能广泛实用,因此能量恢复电路是驱动电路中至关重要的部分.能量恢复电路中的高压开关MOSFET的硬开关问题,会导致PDP电路中的较大的放电电流,增大电磁干扰(EMI),影响整机性能.硬开关问题是近年来PDP电路研究的重点之一.本文通过对经典能量恢复电路及其寄生效应进行理论分析,指出电路及其元件中的寄生效应是电路中主要MOSFET产生硬开关问题的主要原因,由此分析了研究了改进这一问题的几种方法.