ASIC测试生成和可测性分析系统ATGTA

摘要

本文介绍了一个面向非扫描设计的实用的ASIC测试生成和可测性分析系统--ATG-TA.它采用功能块级同步时序电路模型和功能块引腿固定故障模型.可接收四种常用语言描述的电路网表.用FDCM方法引导测试生成过程,用DRFM方法识别组合冗余故障,通过测度分析与规则判定相结合识别时序电路中的不可测故障.用G-F二值算法按有限回溯测试模式产生方法推导测试向量.反向追踪时,采用宽度和深度动态交替优先策略.ATGTA已实际用于四万门以内的非扫描单双向ASIC芯片,效果良好.