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吴启光; 李国英; 顾岚; 赵志源;
中国科学院系统科学研究所,北京,100080;
中国人民大学,北京,100872;
Ⅰ型删失,双参数威布尔分布,极值分布,可靠性抽样检验方案;
机译:多重插补下威布尔分布下部分区间检验失效时间数据的参数检验
机译:威布尔分布下ANOVA的修正Welch检验统计量
机译:多元威布尔分布下具有常见审查可靠性数据的竞争风险模型
机译:威布尔分布下具有可靠性约束的系统生命周期成本的优化建模
机译:不可修复的系统在可靠性方面的可靠性分析(保修,威布尔,变种)。
机译:浅析威布尔分布的应力强度可靠性估算程序
机译:基于加速寿命试验的威布尔分布下机电产品可靠性评估
机译:关于双参数威布尔分布建模系统可靠性的假设的顺序检验
机译:自动威布尔可靠性预测和分类
机译:抽样检验的评估方法和抽样检验的评估装置
机译:抽样调查仪器及抽样检验方式
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